既然嘗試開(kāi)卡，肯定就要拆開(kāi)固態(tài)看看，主控圖片顯示為SM2258XT，Nand Flash 即閃存顆粒為以前的習(xí)慣叫鎂光，后來(lái)官方自稱美光的3D TLC NAND 6XB2DNW837和6XB2DNW838，主控和顆粒這兩個(gè)東西一定要搞清楚，手頭上還有根易驅(qū)線用來(lái)讀取該固態(tài)硬盤（聽(tīng)說(shuō)不用轉(zhuǎn)接線還會(huì)有BUG）。

短接圖中畫框的地方（鑷子插進(jìn)去很好用），短接好后插上一根易驅(qū)線轉(zhuǎn)接卡之類的，另外一頭的USB再插電腦主機(jī)中，打開(kāi)“SM2258XTMPToolQ0914B”版本的SM2258XT開(kāi)卡軟件，這個(gè)我就不提供了，搜索一下網(wǎng)上有，該軟件打開(kāi)后右側(cè)選擇“Scan Drive”掃描，這時(shí)候會(huì)聽(tīng)到USB連接的“噔~噔噔”的聲音，如圖顯示一樣就對(duì)了。

此時(shí)斷開(kāi)短接的鑷子或銅線，一定要斷開(kāi)，選擇點(diǎn)擊“Parameter”參數(shù)，第一步應(yīng)該是點(diǎn)擊“Edit Config”編輯配置文件 ，選擇點(diǎn)擊中間“Auto”選擇對(duì)應(yīng)的Flash，然后編輯固態(tài)硬盤的信息，Flash Clock 設(shè)置為100MHz（DDR-200），Cap Type 設(shè)置為 IDEMA，Disk Size 設(shè)置為120G，Pretest 設(shè)置1.Don’t Reference Original Bad 屏蔽壞塊，最后一定要選擇“Save Config”保存配置信息。

0、Reference Original Bad

參考原始錯(cuò)誤

1、Don’t Reference Original Bad

不要引用原始的壞塊

2、Reference Runtime Bad

參考運(yùn)行時(shí)原壞塊數(shù)錯(cuò)誤

3、Reference RDT Bad

參考RDT壞

4、Don’t Reference and Skip Original Bad

不要引用并跳過(guò)原始錯(cuò)誤（屏蔽壞塊）

我們?cè)冱c(diǎn)擊該軟件左上角的“Test”，選擇“Start”開(kāi)始開(kāi)卡，最后就是等待開(kāi)卡結(jié)束，使用“urwtest_v18”跑1圈就可以了，如果遇到跑圈失敗，，第一條路是跑RDT再開(kāi)卡，第二條路是多跑幾圈讓主控替換掉壞道，可以嘗試使用“h2test”軟件跑三次有可能就過(guò)了。

對(duì)了，大象網(wǎng)在開(kāi)卡的過(guò)程中還遇到了，報(bào)錯(cuò)Flash Connectivity Test fail (22)，其實(shí)沒(méi)別的原因就是固件版本問(wèn)題，開(kāi)卡軟件不支持你的這個(gè)芯片。

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版權(quán)聲明：本文采用知識(shí)共享 署名4.0國(guó)際許可協(xié)議 [BY-NC-SA] 進(jìn)行授權(quán)
文章名稱：《金泰克/tigo S300 120G SM2258XT 頻繁掉盤后開(kāi)卡全過(guò)程》
文章鏈接：http://www.chufaqi.cn/datasec/4775.html
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